Описание
- Цялата вътрешна електроника сега използва по-малко енергия и работи при по-високи температури – без дрейф или изключване.
- Преработено поглъщане на топлина – вече може да работи непрекъснато до 110F (43C) околни температури
- Нови вътрешни платки
- Нов корпус и метални компоненти
- Актуален софтуер, потребителски интерфейс и пълно повторно калибриране
- Същата усъвършенствана рентгенова тръба като другите X модели
- Може да бъде фабрично калибриран с основни параметри, нормализация на Compton (EPA метод 6200) или дефинирани от потребителя емпирични калибрации.
Класика, преосмислена
Най-добра в класа производителност и скорост
Най-модерната ръчна XRF платформа в света сега включва рентабилен SDD детектор.
SciAps X-5 е отличен избор за извършване на основен анализ на преходни и тежки метали. Проектиран за потребители, които не изискват измервания на Mg, Al, Si, S или P в сплави или други материали.
За тези потребители е преработена тази класическа технология и е оборудвана с повече функции за много приложения на страхотна стойност.
Сплав, скрап: За много NDT/PMI задачи, които изискват проверка на нисколегирани, Cr/Mo стомани, неръждаеми и устойчиви на корозия сплави, X-5 често осигурява отлична производителност. Приложенията за сплави включват сортиране на неръждаема стомана, високотемпературни сплави и червени метали. Прочетете повече за SciAps за рециклиране на скрап.
И още: X-5 се предлага и за благородни метали, RoHS, почва, минно дело, автомобилни катализатори, промишлени оловни бои и други приложения, които могат да се персонализират от потребителя.
Тегло
2,98 паунда. (1,35 кг) с батерия
Налични приложения
Благородни метали, RoHS, почва, добив,
Автомобилни катализатори, промишлени оловни бои
Детектор
7 mm2 SDD, силиконов дрейф детектор, (активна площ), 170 eV резолюция FWHM при 5,95 Mn K-алфа линия
Дисплей
2,7-инчов цветен капацитивен сензорен екран, 400 MHz Qualcomm Adreno 306 2/D/3D графичен ускорител. Обърнат назад дисплей за лесен преглед на резултатите, четлив при всякакви условия.
Елементи
24 елемента стандарт (в зависимост от приложението), допълнителни елементи могат да бъдат добавени по заявка на потребителя: Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Zr, Se, Nb, Mo, Pd, Ag, Cd, Sn , Sb, Hf, Ta, W, Re, Au, Pb и Bi.
Импулсен процесор
12 бита със скорост на цифровизация от 80 MSPS 8K канален MCA USB 2.0 за високоскоростен трансфер на данни към хост процесор. Цифрово филтриране, внедрено в FPGA за обработка на импулси с висока пропускателна способност 20 ns – 24 uS пиково време.
Свързаност
Wi-Fi, Bluetooth, USB свързаност към повечето устройства, включително софтуера SciAps Profile Builder за компютър или таблет. Налични опции за управление на данни на SciAps Cloud.
Двойни камери
Вътрешна камера с висока разделителна способност за разглеждане на проби, заварки и др. Макро камера за фотодокументиране, четене и съхраняване на 2D/3D баркодове и QR кодове.
Регулаторен
CE, RoHS, USFDA регистриран, Канада RED Act.
Източник на възбуждане
4 W, 40 kV Rh анодна рентгенова тръба
Размери
8,5 x 9,5 x 2,4 инча
Филтриране на рентгенови лъчи
Филтър с един първичен лъч.
Обработваща електроника
1,2 GHz Quad ARM Cortex A53 64/32-bit, RAM 2 GB LP-DDR3. Съхранение: 16 GB eMMC.
Мощност
Вградена акумулаторна литиево-йонна батерия, зареждаща се вътре в устройството или с външно зарядно устройство, AC захранване. Възможност за гореща смяна (60s максимално време за смяна).
Калибриране
Анализаторите могат да бъдат фабрично калибрирани с основни параметри, нормализация на Compton (EPA метод 6200) или дефинирани от потребителя емпирични калибрации.
Температурен диапазон на околната среда
10 F до 130 F при 25% работен цикъл
Сигурност
Защитена с парола многопотребителска поддръжка с конфигурируем достъп.
Вземете и двете с ONEBOX
Сдвоете всяка серия Z с нашия водещ в индустрията XRF уред и получете оптимален анализ на всеки елемент в периодичната таблица и всеки тип проба. Същите батерии, кабели, зарядни и други аксесоари.
LIBS: Анализирайте елементи, които XRF не може да тества: Li, Be, B, C, F, Na и други. Подобрена производителност при Mg, Ca, K в сравнение с XRF. Микроанализ с размер на лазерното петно 100 um.
XRF: Страхотен за преходни и тежки метали. Лесен за използване, особено върху насипни, почвени и рудни материали.
Отзиви
Все още няма отзиви.