XRF – Рентгеново-флуоресцентна спектроскопия

Рентгеновата флуоресценция (XRF) е неразрушителен аналитичен метод, използван за определяне на концентрации на елементи в различни материали.

XRF работи, като рентгенов лъч излъчен от рентгенова тръба “удря” пробата, причинявайки характерните рентгенови лъчи да флуоресцират от всеки елемент в пробата. Детектора измерва енергията и интензитета (брой рентгенови лъчи в секунда при специфична енергия) на всеки рентгенов лъч, който се трансформира в елементна концентрация, използвайки нестандартна техника, като например основни параметри или генерирани от потребителя калибровъчни криви. Наличието на всеки елемент се идентифицира чрез характерната дължина на вълната или енергията на рентгеновото излъчване на елемента. Количеството на присъстващия елемент се определя количествено чрез измерване на интензитета на характерното рентгеново излъчване на този елемент.

SciAps предлага две платформи за ръчни XRF анализатори:

PREMIUM серия
С 2,75 lbs., X-550 и X-505 са най-леките анализатори, създавани някога, в метална рамка за максимална издръжливост и работен цикъл. Тесният, тънък форм фактор осигурява достъп до най-тежките тестови места, с най-новия 2,7″ (68,6 mm) дисплей за преглед отзад на класа и химията.

X-550 поставя нов стандарт за производителност за ръчен XRF. С тегло 2,8 lbs. (1,3 кг) с батерията, това е най-малкият, най-лекият, най-бързият XRF анализатор на пазара. Той е бърз за определяне на всички сплави и също толкова добър за алуминий, колкото и за работа при високи температури за пазара за скрап, и идва с напълно заредени приложения за NDT (остатъци, сулфидна корозия, сплав).

X-550 използва най-мощната рентгенова тръба в индустрията, работеща с до 3 пъти по-голяма мощност в настройката Beam 2 в сравнение с SciAps X-505 и всички други ръчни XRF анализатори. Уникалната геометрия и мощността на тръбата оптимизират производителността за приложения за измерване на нисък атомен номер, включително сулфидна корозия (ниско съдържание на Si), фосфор и сяра и алуминиеви сплави, както и за анализ на остатъци съгласно API 751 и 5L спецификации.

Каква е разликата между премиум X-550 и X-505? Отговорът е прост: Скорост на елементи с ниско атомно число като Mg, Al, Si, P и S. Когато X-550 работи с около 3 пъти по-висока мощност на рентгеновите лъчи в настройката „Beam 2“ (известна също като ниска настройка на напрежението) в сравнение с X-505 или други ръчни XRF анализатори, измерените интензитети от Mg, Al, Si, P и S (плюс K, Ca и Cl в други приложения) са 3 пъти по-високи, произвеждайки 3 пъти по-бързи измервания с X -550.

VALUE серия
Напълно преработените X-200, X-250 и X-50 са XRF анализаторите с най-ниска цена на пазара, но въпреки това предлагат най-добрите в класа аналитични и скоростни характеристики, с цялата точност и производителност на X- 550 и X-505. Сега с подобрено разсейване на топлината, намалено тегло и нов потребителски интерфейс.

Страхотна производителност и стойност
Искате точността и производителността на премиум моделите, но в по-евтина серия анализатори? Тогава помислете за напълно преработената серия „VALUE“, с подобрено разсейване на топлината, намалено тегло, нов потребителски интерфейс. Цялата вътрешна електроника сега използва по-малко енергия и работи при по-високи температури – без дрейф или изключване.

• Нов, лек дизайн с тегло 3,1 lbs. (1,4 кг) включително със батериите
  
• Преработено поглъщане на топлина, сега може да работи непрекъснато до 110F (43C) околни температури
  
• Актуален софтуер, потребителски интерфейс и пълно повторно калибриране
  

X-200: Моделът със силициев детектор за дрейф (SDD) е на конкурентна цена за всяко изискване за производителност. Само малко по-тежък от платформата X-505/550, но все пак с водеща в индустрията скорост и прецизност. X-200 е стойностната версия на X-505.

X-50: „старата школа“ PiN диодна технология за основен анализ на преходни и тежки метали. Голяма стойност за анализиране на основни сплави, включително неръждаема стомана, високотемпературни сплави, медни сплави.

Налични приложения и пакети със стандартни елементи

Стандартните пакети елементи за различните модели и приложения са показани в таблицата по-долу.

Имате нужда от други елементи? Просто питаме! Добавяме или заместваме елементи често за конкретни приложения.

XRF Test Stand

SciAps Test Station ви позволява да превърнете вашия ръчен X-50 или X-200 в настолен анализатор. Напълно екраниран с хардуерни блокировки, той е проектиран за надеждност, издръжливост и безопасност. Супер стабилната основа позиционира вашите проби правилно, независимо от това какво се случва около вас. Вградените вентилатори поддържат анализатора хладен дори при най-екстремните работни цикли и среди.

X-500 Series – Mini Test Station

Пътувате? – Мини станцията за тестване всъщност може да се побере в джоба на сакото ви.

Софтуер за настройка и персонализиране

SciAps Profile Builder е зареден с общи сертифицирани от индустрията референтни материали (CRM с анализи) и потребителите могат да добавят още за местна геохимия. Преглеждайте криви на калибриране, генерирайте нови, изграждайте силно персонализирани модели за вашите собствени елементи, които представляват интерес. Наслагвайте и сравнявайте минерални спектри и много повече. Съвместимост на софтуер на трети страни: SciAps има удоволствието да експортира данни към много софтуерни пакети на трети страни, като софтуерите Leapfrog и IoGlobal. Свържете се с нас, за да обсъдим всякакви специфични изисквания.

XRF и LIBS в „ONE BOX“

Със SciAps X и Z получете оптимален анализ на всички елементи и типове проби. X анализира преходни и тежки метали с голяма прецизност и е идеален за масивни типове проби като сплави, почви, течности, прахове. С Z вижте елементи с ниско атомно число като Li, Be, B, C, Na и F, дори до водород. Вътрешната камера и 100 um точка на лъч са идеални за микроанализ.

X и Z работят с една и съща батерия, използват едно и също зарядно устройство и споделят аксесоари.